일반적으로 테스트 전류가 15mA보다 크면 테스트 파형이 반복 가능하고 스택 될 수 있으며 하나의 파형에는 하나의 전송, 세 개의 반사가 있고 펄스 진폭이 점차 약해지며 측정 거리는 결함 지점에서 케이블 테스트 끝; 그렇지 않으면 결함 지점에서 케이블 테스트의 반대쪽 끝까지의 거리입니다. 다음은 결함 지점의 저항을 기반으로 한 테스트 방법에 대한 간략한 설명입니다.
(1) 고장점의 저항이 측량할 수 없는 값과 같을 때, 고전압 펄스법을 사용하여 개방회로의 고장을 쉽게 찾아낼 수 있다. 일반적으로 진정한 개방 회로의 결함은 드문 일이 아닙니다. 일반적으로 개방 회로의 결함은 접지 또는 위상 대 위상에 대한 높은 저항과 접지 또는 위상 대 위상에 대한 낮은 저항이 공존하는 것입니다.
(2) 결함점의 저항이 Low Wen보다 크고 100 킬로옴 미만일 때 고전압 펄스법으로 측정하여 저저항의 결함을 쉽게 찾아낼 수 있다.
(3) 플래시오버 결함은 직접 플래시 방식으로 측정할 수 있습니다. 이 결함은 일반적으로 커넥터 외부에 존재합니다. 결함점의 저항은 100킬로옴보다 크지만 값이 크게 변하고 각 측정값이 불확실함
(4) 섬락결함은 일반적으로 예방적 내전압시험에서 발생하며, 대부분은 케이블 단자와 중간 및 직접단에서 발생한다.
(5) 고저항 결함의 경우 임펄스 방법을 사용하여 100 킬로옴보다 큰 결함 지점의 저항을 측정하고 값을 결정할 수 있습니다. 이러한 장치는 수십 센티미터 내에서 측정 오류를 제어할 수 있습니다. 결함 지점을 직접 찾아 처리를 중지할 수 있어 결함 감지 효율성이 향상됩니다. 예를 들어, 음성 주파수 신호에서 케이블로 결함 지점에서 신호를 수신하는 현재 테스트 기술, CD{2}} 케이블 결함 테스터를 사용하여 결함 지점의 정확한 위치 지정.
현재 널리 사용되는 테스트 방법은 임펄스 플래시와 다이렉트 플래시를 포함하는 플래시 테스트 방법입니다. 일반적으로 사용되는 방법은 임펄스 플래시 방법입니다. 케이블 결함 테스트의 기술 수준을 향상시키려면 다양한 결함 특성에 대해 다른 방법을 채택해야 하며 때때로 새로운 기술과 장비를 도입해야 합니다. 동시에 새로운 기능을 개발하기 위해 새로운 장비에 대한 경험을 탐구해야 합니다.
